Fischer XDL-B膜厚儀(不升降）
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Fischer XDL-B膜厚儀(不升降）(1/2)
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Fischer XDL-B膜厚儀(不升降）(2/2)
18051103912
品介紹
XDL系列儀器配備了比列計數管探測器，適用于質量控制，來料檢驗和生產監(jiān)控。由于它測量空間大，故而適合測量有復雜幾何形狀的大尺寸樣品。XDL系列不僅可以配置簡單樣品平臺，還可以配置不同的XY工作臺，因而可用于自動化批量測量。
設計用途
能量色散X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀（EDXRF）用來測量薄鍍層和微小結構，分析合金和微量組分。
元素范圍
從元素氯（17）到鈾（92）
配有可選的WinFTM軟件時，最多可同時測定24種元素
應用領域
測量大規(guī)模生產的電鍍零部件
測量微小區(qū)域上的薄鍍層
測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層
全自動測量，如測量印刷線路板
高壓
三檔：30Kv,40Kv,50kv
孔徑
0.3mm 可選0.3*0.05mm